ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040.40
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01.040
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- ISO 16531 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS - First Edition
- ISO 14606 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials - Second edition
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 8
- ASTM E1829 Standard Guide for Handling Specimens Prior to Surface AnalysisТипичный гид для обработки экземпляров до поверхностного анализа
Карточка документа - ASTM E1078 Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface AnalysisТипичный гид для подготовки к экземпляру и повышающийся в поверхностном анализе
Карточка документа - ASTM E1634 Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth MeasurementsТипичный гид для измерений глубины кратера Performing Sputter
Карточка документа - ASTM E1577 Standard Guide for Reporting of Ion Beam Parameters Used in Surface AnalysisТипичный гид для создания отчетов параметров ионного пучка, используемых в поверхностном анализе
Карточка документа - ASTM E996 Standard Practice for Reporting Data in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron SpectroscopyОбщепринятая практика для создания отчетов о данных в спектроскопии электрона сверла и спектроскопии фотоэлектрона рентгена
Карточка документа - ASTM E1636 Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic FunctionОбщепринятая практика для аналитичного описания профиля глубины и данных Linescan-профиля расширенной логистической функцией
Карточка документа - ASTM E827 Standard Practice for Identifying Elements by the Peaks in Auger Electron SpectroscopyОбщепринятая практика для идентификации элементов пиками в спектроскопии электрона сверла
Карточка документа - ISO TR 22335 Surface chemical analysis — Depth profiling — Measurement of sputtering rate: mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer - First EditionПоверхностный химический анализ — профилирование Глубины — Измерение бормочущего уровня: метод точной копии петли с помощью механического стилуса profilometer - Первый Выпуск
Карточка документа
