ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040.40
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01.040
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- ISO 16531 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS - First Edition
- ISO 14606 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials - Second edition
- Картотека зарубежных и международных стандартов
ASTM International
Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
N E1127
Annotation
This guide covers procedures used for depth profiling in Auger electron spectroscopy.
Guidelines are given for depth profiling
The values stated in SI units are to be regarded as standard. No other units of measurement are included in this standard.
This standard does not purport to address all of the safety problems, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use.
Автоматический перевод:
Типичный гид для профилирования глубины в спектроскопии оже-электрона
Это руководство покрывает процедуры, используемые для профилирования глубины в спектроскопии электрона Оже.
Инструкции даны для профилирования глубины
Значения, утвержденные в единицах СИ, должны рассматриваться как стандарт. Никакие другие единицы измерения не включены в этот стандарт.
Этот стандарт не подразумевает обращаться ко всем проблемам безопасности, если таковые имеются, связанный с его использованием. Это - ответственность пользователя этого стандарта, чтобы установить методы надлежащей безопасности и здоровья и определить применимость регулирующих ограничений до использования.
