BSI BS EN 60749-44 Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- CENELEC EN 60749-21 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
- 31
- IEC 60747-2 Semiconductor Devices - Discrete Devices and Integrated Circuits Part 2: Rectifier Diodes - Edition 2.0
- BSI BS EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 34: Power cycling
- IEC 60749-23 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life - Edition 1.1 Consolidated Reprint
- BSI BS EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 34: Power cycling
- BSI BS EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 34: Power cycling
- IEC 60749-23 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life - Edition 1.1 Consolidated Reprint
- IEC 60749-23 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life - Edition 1.1 Consolidated Reprint
- CENELEC EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
- IEC 60749-3 CORR 1 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 3: External visual examination CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0
- IEC 60747-5-6 Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Edition 1.0
- IEC 60749-38 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory - Edition 1.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 4
- IEC 62396-5 Process management for avionics – Atmospheric radiation effects – Part 5: Assessment of thermal neutron fluxes and single event effects in avionics systems - Edition 1.0Управление процессами для авиационной радиоэлектроники – Атмосферных воздействий радиации – Часть 5: Оценка потоков тепловых нейтронов и единственных эффектов событий в авиационных системах - Издание 1.0
Карточка документа - IEC 62396-4 Process management for avionics – Atmospheric radiation effects – Part 4: Design of high voltage aircraft electronics managing potential single event effects - Edition 1.0Управление процессами для авиационной радиоэлектроники – Атмосферных воздействий радиации – Часть 4: Дизайн высоковольтного потенциала управления электроники самолета единственные эффекты событий - Издание 1.0
Карточка документа - CENELEC EN 60749-38 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memoryПолупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 38: метод тестирования Исправимой ошибки для полупроводниковых устройств с памятью
Карточка документа - IEC 60749-38 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Механические и климатические методы испытаний – Часть 38: Мягкий ошибочный метод испытаний для полупроводниковых устройств с памятью - Издание 1.0
Карточка документа
