IEC 60749-38 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory - Edition 1.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- CENELEC EN 60749-21 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
- 31
- CENELEC EN 61175-1 Industrial systems, installations and equipment and industrial products - Designation of signals - Part 1: Basic rules
- IEC 60747-2 Semiconductor Devices - Discrete Devices and Integrated Circuits Part 2: Rectifier Diodes - Edition 2.0
- BSI BS EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 34: Power cycling
- IEC 60747-2 Semiconductor Devices - Discrete Devices and Integrated Circuits Part 2: Rectifier Diodes - Edition 2.0
- IEC 60747-2 Semiconductor Devices - Discrete Devices and Integrated Circuits Part 2: Rectifier Diodes - Edition 2.0
- BSI BS EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 34: Power cycling
- BSI BS EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 34: Power cycling
- IEC 60749-23 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 23: High temperature operating life - Edition 1.1 Consolidated Reprint
- CENELEC EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling
- IEC 60749-3 CORR 1 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 3: External visual examination CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0
- IEC 60747-5-6 Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Edition 1.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory - Edition 1.0
N 60749-38
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства – Механические и климатические методы испытаний – Часть 38: Мягкий ошибочный метод испытаний для полупроводниковых устройств с памятью - Издание 1.0
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS EN 60749-38 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
- CENELEC EN 60749-38 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
