ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
На него ссылаются
- В списке элементов: 8
- ISO 13424 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of results of thin-film analysis - First EditionПоверхностный химический анализ - делает рентген фотоэлектронной спектроскопии - Создания отчетов результатов анализа тонкой пленки - Первый Выпуск
Карточка документа - ISO 16531 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS - First EditionПоверхностный химический анализ - профилирование Глубины - Методы для выравнивания ионного пучка и связанного измерения плотности тока или плотности тока для профилирования глубины в AES и XPS - Первый Выпуск
Карточка документа - ISO 23833 Microbeam analysis - Electron probe microanalysis (EPMA) - Vocabulary - Second EditionАнализ микропучка - Электронно-зондовый анализ (EPMA) - Словарь - Второй Выпуск
Карточка документа - ISO 14644-10 Cleanrooms and associated controlled environments - Part 10: Classification of surface cleanliness by chemical concentration - First EditionЧистые помещения и связанный управляли средами - Часть 10: Классификация поверхностной чистоты химической концентрацией - Первый Выпуск
На основе ISO 14644-10 разработан ГОСТ Р ИСО 14644-10-2014 (IDT)ГОСТ Р ИСО 14644-10-2014 (IDT) - ISO 11505 Surface chemical analysis - General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry - First EditionПоверхностный химический анализ - Общие процедуры для количественного композиционного профилирования глубины тлеющим разрядом оптическая спектрометрия эмиссии - Первый Выпуск
Карточка документа - ISO 15632 Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energydispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis - Second EditionАнализ микролуча - Отобранные инструментальные эксплуатационные параметры для спецификации и проверки energydispersive Рентгеновских спектрометров для использования в электронном микроанализе исследования - Второй Выпуск
Карточка документа - ISO TS 10797 Nanotechnologies - Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy - First EditionНанотехнологии - Характеристика углеродных нанотрубок единственной стены с помощью микроскопии электрона передачи - Первый Выпуск
Карточка документа - ASTM E1217 Standard Practice for Determination of the Specimen Area Contributing to the Detected Signal in Auger Electron Spectrometers and Some X-Ray Photoelectron SpectrometersОбщепринятая практика для определения области экземпляра, способствующей обнаруженному сигналу в спектрометрах электрона сверла и некоторых спектрометрах фотоэлектрона рентгена
Карточка документа
