0 продуктов

Авторизация

ISO 15632 Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energydispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis - Second Edition

 

International Organization for Standardization

Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energydispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis - Second Edition
 N 15632

 

Annotation

 

This International Standard defines the most important quantities that characterize an energy-dispersive X-ray spectrometer consisting of a semiconductor detector, a pre-amplifier and a signal-processing unit as the essential parts. This International Standard is only applicable to spectrometers with semiconductor detectors operating on the principle of solid-state ionization. This International Standard specifies minimum requirements and how relevant instrumental performance parameters are to be checked for such spectrometers attached to a scanning electron microscope (SEM) or an electron probe microanalyser (EPMA). The procedure used for the actual analysis is outlined in ISO 22309[2] and ASTM E1508[3] and is outside the scope of this International Standard.

 

Автоматический перевод:

 

Анализ микролуча - Отобранные инструментальные эксплуатационные параметры для спецификации и проверки energydispersive Рентгеновских спектрометров для использования в электронном микроанализе исследования - Второй Выпуск

Этот Международный стандарт определяет самые важные количества, характеризующие дисперсионный энергией Рентгеновский спектрометр, состоящий из датчика полупроводника, предусилителя и сигнальной нефтехимической установки как основные части. Этот Международный стандарт только применим к спектрометрам с датчиками полупроводника, воздействующими на принцип твердотельной ионизации. Этот Международный стандарт определяет минимальные требования и как соответствующие инструментальные эксплуатационные параметры должны быть проверены на такие спектрометры, приложенные к сканирующему электронному микроскопу (SEM) или электронному микроанализатору исследования (EPMA). Процедура, используемая для фактического анализа, обрисована в общих чертах в ISO 22309[2] и ASTM E1508[3] и выходит за рамки этого Международного стандарта.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ