ASTM E1636 Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040.40
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- ISO 16531 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS - First Edition
- ISO 14606 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials - Second edition
- ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 4
- ASTM E1162 Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)Общепринятая практика для создания отчетов о данных о профиле глубины распылителя во Вторичной масс-спектрометрии иона (SIMS)
Карточка документа - ASTM E1438 Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMSТипичный гид для измерения ширин интерфейсов в профилировании глубины распылителя Используя SIMS
Карточка документа - ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron SpectroscopyТипичный гид для профилирования глубины в спектроскопии оже-электрона
Карточка документа - ISO 18516 Surface chemical analysis Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy Determination of lateral resolution - First EditionПоверхностный химический анализ спектроскопия электрона Оже и Определение спектроскопии фотоэлектрона рентгена боковой резолюции - Первый Выпуск
Карточка документа
