ASTM E1636 Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic Function
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040.40
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- ISO 16531 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS - First Edition
- ISO 14606 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials - Second edition
- ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 2
- ASTM E2735 Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) ExperimentsТипичный гид для выбора необходимых калибровок для экспериментов Спектроскопии фотоэлектрона рентгена (XPS)
Карточка документа - ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron SpectroscopyТипичный гид для профилирования глубины в спектроскопии оже-электрона
Карточка документа
