ASTM F1893 Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM F1893 Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
- 31
- ASTM ISO/ASTM 51205 Standard Practice for Use of a Ceric-Cerous Sulfate Dosimetry System
- ASTM D3864 Standard Guide for On-Line Monitoring Systems for Water Analysis
- ASTM E178 Standard Practice for Dealing With Outlying Observations
- ASTM E666 Standard Practice for Calculating Absorbed Dose From Gamma or X Radiation
- ASTM F1262M Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
- Картотека зарубежных и международных стандартов
