ASTM F1893 Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM F1893 Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
- 31
- ASTM ISO/ASTM 51205 Standard Practice for Use of a Ceric-Cerous Sulfate Dosimetry System
- ASTM D3864 Standard Guide for On-Line Monitoring Systems for Water Analysis
- ASTM E178 Standard Practice for Dealing With Outlying Observations
- ASTM E666 Standard Practice for Calculating Absorbed Dose From Gamma or X Radiation
- ASTM F1262M Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 3
- ASTM E1894 REV A Standard Guide for Selecting Dosimetry Systems for Application in Pulsed X-Ray SourcesТипичный гид для отбора дозиметрических систем для применения в импульсных источниках рентгеновского луча
Карточка документа - ISO ISO/ASTM 51275 Practice for use of a radiochromic film dosimetry system - Third EditionПрактика для использования radiochromic пленочной дозиметрической системы - Третий Выпуск
Карточка документа - ASTM E668 Standard Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation-Hardness Testing of Electronic DevicesУтвержденный технологический процесс для приложения дозиметрии термолюминесценции (TLD) системы для определения поглощенной дозы на Лучевом Испытании на твердость электронных приборов
Карточка документа
