ASTM International

Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
 N F1262M

Annotation

This guide is to assist experimenters in measuring the transient radiation upset threshold of silicon digital integrated circuits exposed to pulses of ionizing radiation greater than 103 Gy (matl.)/s.

Discussion—This document is intended to be a guide to determine upset threshold, and is not intended to be a stand-alone document.

This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use.

Автоматический перевод:

Стандартное руководство для переходного лучевого порогового тестирования нарушения цифровых интегральных схем (метрика)

Это руководство должно помочь экспериментаторам в измерении переходного лучевого порога нарушения кремниевых цифровых интегральных схем, представленных импульсам атомной радиации, больше, чем 103 Гр (matl.)/s.

Обсуждение — Этот документ предназначается, чтобы быть руководством для определения порога нарушения и не предназначается, чтобы быть автономным документом.