ASTM F1893 Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM F1893 Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
- 31
- ASTM ISO/ASTM 51205 Standard Practice for Use of a Ceric-Cerous Sulfate Dosimetry System
- ASTM D3864 Standard Guide for On-Line Monitoring Systems for Water Analysis
- ASTM E178 Standard Practice for Dealing With Outlying Observations
- ASTM E666 Standard Practice for Calculating Absorbed Dose From Gamma or X Radiation
- ASTM F1262M Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold Testing of Digital Integrated Circuits (Metric)
- Картотека зарубежных и международных стандартов
ASTM International
Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices
N F1893
Annotation
This guide defines the detailed requirements for testing semiconductor devices for short-pulse high dose-rate ionization-induced survivability and burnout failure. The test facility shall be capable of providing the necessary dose rates to perform the measurements. Typically, large flash X-ray (FXR) machines operated in the photon mode, or FXR e-beam facilities are utilized because of their high dose-rate capabilities. Electron Linear Accelerators (LINACs) may be used if the dose rate is sufficient. Two modes of test are described: (1) A survivability test, and (2) A burnout failure level test.
The values stated in International System of Units (SI) are to be regarded as standard. No other units of measurement are included in this standard.
Автоматический перевод:
Руководство для измерения ионизации жизнеспособности мощности дозы и перегорания полупроводниковых устройств
Это руководство определяет подробные требования для тестирования полупроводниковых устройств для коротко-импульсной высокой мощности дозы вызванная ионизацией жизнеспособность и отказ перегорания. Тестовое средство должно быть способно к обеспечению необходимых мощностей доз для выполнения измерений. Как правило, большие машины мгновенного рентгеновского луча (FXR), управляемые в режиме фотона или средствах электронного луча FXR, используются из-за их высоких возможностей мощности дозы. Электронные Линейные ускорители (LINACs) могут использоваться, если мощность дозы достаточна. Описаны два режима теста: (1) тест жизнеспособности А, и (2) тест уровня отказа перегорания А.
