BSI BS ISO 15632 Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
- 37
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
- 37.020
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 4
- BSI BS ISO 23833 Microbeam analysis - Electron probe microanalysis (EPMA) - VocabularyАнализ империи микроба. Микроанализ электронного луча (ESMA). Словарь
Карточка документа - BSI BS ISO 18115-1 Surface chemical analysis - Vocabulary Part 1: General terms and terms used in spectroscopyПоверхностный химический анализ - Часть 1 Словаря: Общие термины и условия используются в спектроскопии
Карточка документа - ISO ISO/IEC 17025 CORR 1 General requirements for the competence of testing and calibration laboratories TECHNICAL CORRIGENDUM 1 - Second editionОбщие требования для компетентности лабораторий тестирования и калибровки ТЕХНИЧЕСКОЕ ИСПРАВЛЕНИЕ 1 - Второй выпуск
Карточка документа - IEC 60759 Standard Test Procedures for Semiconductor X-Ray Energy Spectrometers - Bilingual; First Edition; Amendment 1: 1991Стандартные процедуры проведения испытаний для полупроводниковых энергетических спектрометров рентгеновского луча - двуязычный; первый выпуск; поправка 1: 1991
Карточка документа
