International Organization for Standardization

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
 N TS 24597

Annotation

This Technical Specification specifies methods of evaluating the sharpness of digitized images generated by a scanning electron microscope (SEM) by means of a Fourier transform (FT) method, a contrast-to-gradient (CG) method and a derivative (DR) method.

Автоматический перевод:

Анализ микропучка — Развертывающая электронная микроскопия — Методы оценки четкости изображения - Первый Выпуск

Эта Техническая спецификация определяет методы оценки резкости оцифрованных изображений, сгенерированных сканирующим электронным микроскопом (SEM) посредством метода преобразования Фурье (FT), метода контраста по отношению к градиенту (CG) и производной (DR) метод.

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.