BSI BS ISO 15632 Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
- 37
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
- 37.020
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above
- Картотека зарубежных и международных стандартов
British Standards Institution
Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
N BS ISO 15632
Автоматический перевод:
Анализ микропучка - Отобранные инструментальные эксплуатационные параметры для спецификации и проверки дисперсионных энергией Рентгеновских спектрометров для использования в электронном тестовом микроанализе
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
