ISO 18118 Surface chemical analysis Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials - First Edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
На него ссылаются
- В списке элементов: 5
- BSI BS ISO 13424 Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thinfilm analysisПоверхностный химический анализ — делает рентген фотоэлектронной спектроскопии — Создание отчетов результатов thinfilm анализа
Карточка документа - ISO 13424 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Reporting of results of thin-film analysis - First EditionПоверхностный химический анализ - делает рентген фотоэлектронной спектроскопии - Создания отчетов результатов анализа тонкой пленки - Первый Выпуск
Карточка документа - ASTM E2735 Standard Guide for Selection of Calibrations Needed for X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) ExperimentsТипичный гид для выбора необходимых калибровок для экспериментов Спектроскопии фотоэлектрона рентгена (XPS)
Карточка документа - ASTM E984 Standard Guide for Identifying Chemical Effects and Matrix Effects in Auger Electron SpectroscopyТипичный гид для идентификации химических эффектов и матричных эффектов в спектроскопии электрона сверла
Карточка документа - BSI BS ISO 24236 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy - Repeatability and constancy of intensity scaleПоверхностный химический анализ - спектроскопия Оже-электрона - Воспроизводимость и постоянство шкалы интенсивности
Карточка документа
