BSI BS ISO 13424 Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thinfilm analysis
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040.40
- ISO 18118 Surface chemical analysis Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials - First Edition
- ISO 18118 Surface chemical analysis Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials - First Edition
- ISO 18118 Surface chemical analysis Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials - First Edition
- Картотека зарубежных и международных стандартов
British Standards Institution
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of results of thinfilm analysis
N BS ISO 13424
Автоматический перевод:
Поверхностный химический анализ — делает рентген фотоэлектронной спектроскопии — Создание отчетов результатов thinfilm анализа
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
