ASTM E1249 Standard Practice for Minimizing Dosimetry Errors in Radiation Hardness Testing of Silicon Electronic Devices Using Co-60 Sources
На него ссылаются
- В списке элементов: 10
- ASTM E666 Standard Practice for Calculating Absorbed Dose From Gamma or X RadiationОбщепринятая практика для вычисления поглощенной дозы от гаммы или X радиации
Карточка документа - ASTM E1894 REV A Standard Guide for Selecting Dosimetry Systems for Application in Pulsed X-Ray SourcesТипичный гид для отбора дозиметрических систем для применения в импульсных источниках рентгеновского луча
Карточка документа - ASTM E1854 Standard Practice for Ensuring Test Consistency in Neutron-Induced Displacement Damage of Electronic PartsУтвержденный технологический процесс для обеспечения тестовой непротиворечивости в вызванном нейтроном повреждении смещения электронных частей
Карточка документа - ISO ISO/ASTM 52116 Practice for dosimetry for a self-contained dry-storage gamma irradiator - Second EditionПрактика для дозиметрии для автономного гамма излучателя сухого хранения - Второй Выпуск
Карточка документа - ISO/ASTM 52116 Standard Practice for Dosimetry for a Self-Contained Dry-Storage Gamma IrradiatorОбщепринятая практика для дозиметрии для отдельного гамма излучателя Сухого Хранения
Карточка документа - ASTM F1892 Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor DevicesТипичный гид для атомной радиации (суммарная доза) тестирование эффектов устройств полупроводника
Карточка документа - ASTM F1467 Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (? 10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and MicrocircuitsСтандартное Руководство для Использования Тестера Рентгеновского луча (? Фотоны на 10 кэВ) в Тестировании Эффектов Атомной радиации Полупроводниковых Устройств и Микросхем
Карточка документа - ASTM F996 Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current–Voltage CharacteristicsСтандартный метод тестирования для разделения ионизирующегося вызванного излучением сдвига порогового напряжения MOSFET в компонентный сбор к окисным захваченным дыркам и интерфейсным состояниям Используя подпороговые вольтамперные характеристики
Карточка документа - BSI BS ISO 15560 Practice for Characterization and Performance of a High-Dose Radiation Dosimetry Calibration LaboratoryПрактика для характеристики и производительности калибровочной лаборатории дозиметрии излучения большей дозы
Карточка документа - BSI BS ISO 15572 Guide for Estimating Uncertainties in Dosimetry for Radiation ProcessingГид для оценки неопределенности в дозиметрии для обработки излучения
Карточка документа
