ISO 14606 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials - Second edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01
- ISO 16531 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS - First Edition
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 7
- ISO GUIDE 31 Reference materials - Contents of certificates, labels and accompanying documentation - Third EditionСправочные материалы - Содержание сертификатов, этикеток и сопровождающей документации - Третий Выпуск
Карточка документа - ISO GUIDE 30 Reference materials - Selected terms and definitions - Third EditionСправочные материалы - Отобранные условия и определения - Третий Выпуск
Карточка документа - ISO GUIDE 33 Reference materials - Good practice in using reference materials - Third EditionСправочные материалы - Хорошая практика в использовании справочных материалов - Третий Выпуск
Карточка документа - ASTM E1438 Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMSТипичный гид для измерения ширин интерфейсов в профилировании глубины распылителя Используя SIMS
Карточка документа - ISO GUIDE 34 General requirements for the competence of reference material producers - Third EditionОбщие требования для компетентности справочных производителей материала - Третий Выпуск
На основе ISO GUIDE 34 разработаны ГОСТ Р 8.824-2013 (IDT); ГОСТ ISO Guide 34-2014 (IDT)ГОСТ ISO Guide 34-2014 (IDT) - ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron SpectroscopyТипичный гид для профилирования глубины в спектроскопии оже-электрона
Карточка документа - ISO GUIDE 35 Reference materials - General and statistical principles for certification - Third EditionСправочные материалы - Общие и статистические принципы для сертификации - Третий Выпуск
На основе ISO GUIDE 35 разработаны ГОСТ Р 8.694-2010 (MOD); ГОСТ ISO Guide 35-2015 (IDT)ГОСТ ISO Guide 35-2015 (IDT)
