BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- 37
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- 37.020
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO TR 14294 Workplace atmospheres — Measurement of dermal exposure — Principles and methods - First Edition
- ISO ISO/IEC GUIDE 98-3 SUPP 2 Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) Supplement 2: Extension to any number of output quantities - First Edition
- BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 4
- BSI BS ISO 16592 Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for determining the carbon content of steels using a calibration curve methodАнализ микролуча - Электрон исследует микроанализ - Рекомендации для определения содержания углерода сталей с помощью метода калибровочной кривой
Карточка документа - BSI BS ISO 15632 Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysisАнализ микропучка - Отобранные инструментальные эксплуатационные параметры для спецификации и проверки дисперсионных энергией Рентгеновских спектрометров для использования в электронном тестовом микроанализе
Карточка документа - BSI PD ISO/TS 10797 Nanotechnologies - Characterisation of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopyНанотехнологии - Характеризация углеродных нанотрубок единственной стены с помощью микроскопии электрона передачи
Карточка документа - BSI BS ISO 22489 Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive X-ray spectroscopyАнализ микролуча - Электронно-зондовый анализ - Количественный анализ пункта для оптовых экземпляров с помощью дисперсионной длиной волны Рентгеноспектроскопии
Карточка документа
