BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- 37
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- 37.020
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO TR 14294 Workplace atmospheres — Measurement of dermal exposure — Principles and methods - First Edition
- ISO ISO/IEC GUIDE 98-3 SUPP 2 Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) Supplement 2: Extension to any number of output quantities - First Edition
- BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 8
- ISO GUIDE 33 Reference materials - Good practice in using reference materials - Third EditionСправочные материалы - Хорошая практика в использовании справочных материалов - Третий Выпуск
Карточка документа - BSI BS ISO 14595 Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)Анализ микролуча - Электрон исследует микроанализ - Рекомендации для спецификации сертифицированных справочных материалов (CRMs)
Карточка документа - BSI BS ISO 14594 Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopyАнализ микролуча - Электрон исследует микроанализ - Рекомендации для определения экспериментальных параметров для длины волны дисперсионная спектроскопия
Карточка документа - ASTM E456 REV A Standard Terminology Relating to Quality and StatisticsСтандартная терминология, касающаяся качества и статистики
Карточка документа - BSI BS ISO 15632 Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysisАнализ микропучка - Отобранные инструментальные эксплуатационные параметры для спецификации и проверки дисперсионных энергией Рентгеновских спектрометров для использования в электронном тестовом микроанализе
Карточка документа - ISO ISO/IEC GUIDE 98-3 SUPP 2 Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) Supplement 2: Extension to any number of output quantities - First EditionНеопределенность в измерении - Часть 3: Справочник по выражению неопределенности в измерении (GUM:1995) Приложение 2: Расширение к любому числу выходных количеств - Первый Выпуск
Карточка документа - BSI BS EN 1071-4 Advanced technical ceramics Methods of test for ceramic coatings Part 4: Determination of chemical composition by electron probe microanalysis (EPMA)Продвинутые технические Методы керамики теста на Часть 4 керамических покрытий: Определение химического состава электронным микроанализом исследования (EPMA)
Карточка документа - BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnificationАнализ микропучка, Сканируя электронные Инструкции по микроскопии для калибровки увеличения изображения
Карточка документа
