BSI BS EN 60747-15 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- 13
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- 13.160
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- 35
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- 35.100
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- 35.100.05
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- BSI BS EN 60068-2-6 Environmental testing - Part 2-6: Tests - Test Fc: Vibration (sinusoidal)
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 49
- IEC 61287-1 Railway applications – Power converters installed on board rolling stock – Part 1: Characteristics and test methods - Edition 3.0Железнодорожные заявления – конвертеры Питания, установленные на борту подвижного состава – Часть 1: Характеристики и методы испытаний - Издание 3.0
Карточка документа - IEC 60947-4-3 Low-voltage switchgear and controlgear – Part 4-3: Contactors and motor-starters – AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads - Edition 2.0Низковольтная коммутационная аппаратура и controlgear – Часть 4-3: Контакторы и пускатели электродвигателя – контроллеры полупроводника AC и контакторы для ненагрузок двигателя - Выпуск 2.0
Карточка документа - IEC 60950-1 CORR 2 Information technology equipment – Safety – Part 1: General requirements - Edition 2.0Оборудование информационных технологий – Безопасность – Часть 1: Общие требования - Выпуск 2.0
Карточка документа - DS DS/IEC 60617-DB Graphical symbols for diagrams - DatabaseГрафические символы для схем - База данных
Карточка документа - BSI BS EN 60749-7 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gasesПолупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 7: Внутреннее измерение влажности и анализ других остаточных газов
Карточка документа - BSI BS EN 60749-21 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 21: SolderabilityПолупроводниковые устройства - Механическая и климатическая Часть 21 методов тестирования: Паяемость
Карточка документа - IEC 60749-21 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 21: Solderability - Edition 2.0Полупроводниковые устройства – Механические и климатические методы тестирования – Часть 21: Паяемость - Выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 60749-15 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices - CORR: June 30, 2011Полупроводниковые устройства - Механическая и климатическая Часть 15 методов тестирования: Сопротивление спаиванию температуры для смонтированных устройств через дыру - CORR: 30 июня 2011
Карточка документа - BSI BS EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 34: Power cyclingПолупроводниковые устройства - Механическая и климатическая Часть 34 методов тестирования: Цикл включения и выключения питания
Карточка документа - BSI BS IEC 60747-7 Semiconductor devices - Discrete devices Part 7: Bipolar transistorsПолупроводниковые устройства - Дискретная Часть 7 устройств: Биполярные транзисторы
Карточка документа - IEC 60747-7 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 7: Bipolar transistors - Edition 3.0Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 7: Биполярные транзисторы - Выпуск 3.0
Карточка документа - IEC 60747-8 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 8: Field-effect transistors - Edition 3.0Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 8: Канальные транзисторы - Выпуск 3.0
Карточка документа - IEC 60749-34 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 34: Power cycling - Edition 2.0Полупроводниковые устройства – Механические и климатические методы тестирования – Часть 34: Цикл включения и выключения питания - Выпуск 2.0
Карточка документа - IEC 60749-15 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices - Edition 2.0Полупроводниковые устройства – Механические и климатические методы тестирования – Часть 15: Сопротивление спаиванию температуры для смонтированных устройств через дыру - Выпуск 2.0
Карточка документа - IEC 60747-1 Semiconductor devices – Part 1: General - Edition 2.1 Consolidated ReprintПолупроводниковые устройства – Часть 1: Общий - Выпуск 2.1 Объединенная Перепечатка
Карточка документа - IEC 60112 Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials - Edition 4.1 Consolidated ReprintМетод для определения доказательства и сравнительных индексов прослеживания твердых изоляционных материалов - Издание 4.1 Объединенная Перепечатка
Карточка документа - BSI BS EN 60068-2-14 Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperatureОкружающее влияние. Методы испытания. Проверка N. Изменение температуры
Карточка документа - BSI BS EN 60068-2-27 Environmental testing - Part 2-27: Tests - Test Ea and guidance: ShockОкружающее влияние. Методы испытания. Проверка Ea и руководство. Шокировать
Карточка документа - IEC 60721-3-3 CORR 1 Classification of environmental conditions – Part 3-3: Classification of groups of environmental parameters and their severities – Stationary use at weatherprotected locations - Edition 2.2 Consolidated ReprintКлассификация условий окружающей среды – Часть 3-3: Классификация групп экологических параметров и их строгого обращения – Стационарное использование в weatherprotected расположениях - Издание 2.2 Объединенная Перепечатка
Карточка документа - BSI BS EN 61340-5-1 Electrostatics - Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena - General requirementsЭлектростатика - Часть 5-1: Защита электронных устройств от электростатических явлений - Общие требования
Карточка документа - BSI BS EN 60068-2-6 Environmental testing - Part 2-6: Tests - Test Fc: Vibration (sinusoidal)Окружающее влияние. Методы испытания. Проверка Fc. (В форме синуса) вибрируют
Карточка документа - IEC 60747-9 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) - edition 2.0Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 9: биполярные транзисторы изолированного затвора (IGBTs) - выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 60664-1 Insulation coordination for equipment within low-voltage systems - Part 1: Principles, requirements and testsИзолирующая координация для электрических средств производства в устройствах низкого напряжения. Принципы, требования и проверки
Карточка документа - IEC 60664-1 Insulation coordination for equipment within low-voltage systems – Part 1: Principles, requirements and tests - Edition 2.0Координация изоляции для оборудования в низковольтных системах – Часть 1: Принципы, требования и испытания - Издание 2.0
На основе IEC 60664-1 разработан ГОСТ Р МЭК 60664.1-2012 (IDT)ГОСТ Р МЭК 60664.1-2012 (IDT) - BSI BS EN 60068-2-47 Environmental testing - Part 2-47: Tests - Mounting of specimens for vibration, impact and similar dynamic testsОкружающее влияние. Методы испытания. Укрепление экзаменующихся к лишаю взвивайся, ударному лишаю и похожим динамичным проверкам
Карточка документа - BSI BS EN 60749-14 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)Полупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 14 методов тестирования: Устойчивость завершений (целостность вывода)
Карточка документа - BSI BS EN 60749-25 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cyclingПолупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 25 методов тестирования: Температурное циклическое повторение
Карточка документа - IEC 60749-6 CORR 1 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 6: Storage at high temperature CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Часть 6: Устройство хранения данных при высокой температуре CORRIGENDUM 1 - Выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60749-12 CORR 1 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 12: Vibration, variable frequency CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Часть 12: Вибрация, переменная частота CORRIGENDUM 1 - Выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60749-10 CORR 1 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 10: Mechanical Shock CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 10: механический CORRIGENDUM 1 шока - выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60749-25 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cycling - Edition 1.0Полупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 25 методов тестирования: циклическое повторение Температуры - Выпуск 1.0
Карточка документа - BSI BS EN 60749-36 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36: Acceleration, steady stateПолупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 36 методов тестирования: Ускорение, устойчивое состояние
Карточка документа - BSI BS EN 60749-5 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 5: Steady-state temperature humidity bias life testПолупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 5 методов тестирования: влажность Температуры установившегося процесса смещает испытания на долговечность
Карточка документа - IEC 60749-5 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test - Edition 1.0; Replaces IEC/PAS 62161Полупроводниковые приборы - механические и климатические Методы испытаний - Часть 5: установившиеся температуры и влажности уклон жизни тест - издание 1.0; заменяет МЭК/пас 62161
Карточка документа - BSI BS EN 60749-6 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 6: Storage at High TemperatureПолупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 6 методов тестирования: устройство хранения данных при высокой температуре
Карточка документа - BSI BS EN 60749-12 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 12: Vibration, Variable FrequencyПолупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 12 методов тестирования: вибрация, переменная частота
Карточка документа - BSI BS EN 60749-10 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 10: Mechanical Shock - CORR 14112: September 17, 2002Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 10: механический шок - CORR 14112: 17 сентября 2002
Карточка документа - BSI BS EN ISO 1302 Geometrical Product Specifications (GPS) - Indication of Surface Texture in Technical Product DocumentationГеометрические технические характеристики изделия (GPS) - индикация относительно фактуры поверхности в технической документации по продукту
Карточка документа - BSI BS EN 60068-3-4 Environmental Testing - Part 3-4: Supporting Documentation and Guidance - Damp Heat Tests - CORR 15889: January 19, 2006Испытания на воздействия окружающих условий - часть 3-4: сопроводительная документация и руководство - влажные тепловые испытания - CORR 15889: 19 января 2006
Карточка документа - IEC 60270 CORR 1 High-Voltage Test Techniques - Partial Discharge Measurements CORRIGENDUM 1 - Edition 3.0Высоковольтные методы испытания - частичные измерения CORRIGENDUM 1 выброса - выпуск 3.0
Карточка документа - BSI BS EN 60270 High-Voltage Test Techniques - Partial Discharge MeasurementsВысоковольтные методы испытания - частичные измерения выброса
Карточка документа - IEC 60747-6 Semiconductor Devices - Part 6: Thyristors - Edition 2.0Устройства полупроводника - часть 6: тиристоры - издание 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 60191-4 Mechanical standardization of semiconductor devices Part 4: Coding system and classification into forms of package outlines for semiconductor device packagesМеханическая стандартизация полупроводниковой Части 4 устройств: Кодирование системы и классификации в формы пакета обрисовывает в общих чертах для полупроводниковых пакетов устройства
Карточка документа - BSI BS EN 60068-2-48 Environmental Testing - Part 2: Tests - Guidance on the Application of the Tests of IEC 60068 to Simulate the Effects of StorageЭкологические проверки. Проверки. Руководство к приложению проверок после Международной комиссии по электротехнике 60 068 к копии воздействий хранения
Карточка документа - IEC 60747-2 Semiconductor Devices - Discrete Devices and Integrated Circuits Part 2: Rectifier Diodes - Edition 2.0Устройства полупроводника - дискретная часть 2 устройств и интегральных схем: диоды ректификатора - издание 2.0
Карточка документа - BSI BS IEC 60319 Presentation and Specification of Reliablity Data for Electronic ComponentsПредставление и спецификация данных Reliablity для электронных компонентов
Карточка документа - BSI BS EN 60721-3-3 Classification of environmental conditions - Part 3: Classification of groups of environmental parameters and their severities - Section 3.3 Stationary use at weatherprotected locations - AMD 9514: June 15, 1997Классификация условий среды. Классы величин влияния окружающей среды и их предельные значения. Неподвижное использование wettergeschuetzt - AMD 9514: Джун 15, в 1997
Карточка документа - BSI BS EN 22768-2 General Tolerances Part 2: Geometrical Tolerance for Features without Individual Tolerance IndicationsОбщая часть 2 допусков: геометрический допуск для особенностей без отдельных признаков допуска
Карточка документа - BSI BS EN 60068-2-7 Environmental testing - Part 2: Tests - Test Ga and guidance: Acceleration, steady stateОсновные экологические методы испытания. Проверки. Однообразное ускорение
Карточка документа
