Ссылается на

• В списке элементов: 10
• CENELEC EN 60749-34 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cyclingПолупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 34: Цикл включения и выключения питания
  Карточка документа 
• IEC 60747-1 Semiconductor devices – Part 1: General - Edition 2.1 Consolidated ReprintПолупроводниковые устройства – Часть 1: Общий - Выпуск 2.1 Объединенная Перепечатка
  Карточка документа 
• IEC 60112 Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials - Edition 4.1 Consolidated ReprintМетод для определения доказательства и сравнительных индексов прослеживания твердых изоляционных материалов - Издание 4.1 Объединенная Перепечатка
  Карточка документа 
• IEC 60721-3-3 CORR 1 Classification of environmental conditions – Part 3-3: Classification of groups of environmental parameters and their severities – Stationary use at weatherprotected locations - Edition 2.2 Consolidated ReprintКлассификация условий окружающей среды – Часть 3-3: Классификация групп экологических параметров и их строгого обращения – Стационарное использование в weatherprotected расположениях - Издание 2.2 Объединенная Перепечатка
  Карточка документа 
• CENELEC EN 60664-1 Insulation coordination for equipment within low-voltage systems - Part 1: Principles, requirements and testsКоординация изоляции для оборудования в низковольтных системах - Часть 1: Принципы, требования и испытания
  Карточка документа 
• IEC 60664-1 Insulation coordination for equipment within low-voltage systems – Part 1: Principles, requirements and tests - Edition 2.0Координация изоляции для оборудования в низковольтных системах – Часть 1: Принципы, требования и испытания - Издание 2.0
  На основе IEC 60664-1 разработан ГОСТ Р МЭК 60664.1-2012 (IDT)ГОСТ Р МЭК 60664.1-2012 (IDT) 
• IEC 60749-5 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test - Edition 1.0; Replaces IEC/PAS 62161Полупроводниковые приборы - механические и климатические Методы испытаний - Часть 5: установившиеся температуры и влажности уклон жизни тест - издание 1.0; заменяет МЭК/пас 62161
  Карточка документа 
• IEC 60270 CORR 1 High-Voltage Test Techniques - Partial Discharge Measurements CORRIGENDUM 1 - Edition 3.0Высоковольтные методы испытания - частичные измерения CORRIGENDUM 1 выброса - выпуск 3.0
  Карточка документа 
• CENELEC EN 60270 High-voltage test techniques - Partial discharge measurements - Incorporates Amendment A1:2016Высоковольтные методы испытания - Частичные измерения выброса - Включают Поправку A1:2016
  Карточка документа 
• CENELEC EN 60721-3-3 Classification of Environmental Conditions; Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities; Section 3: Stationary Use at Weatherprotected Locations - Incorporates Amendment A2: 1997Классификация условий окружающей среды; часть 3: классификация групп экологических параметров и их строгого обращения; раздел 3: стационарное использование в расположениях Weatherprotected - включает поправку A2: 1997
  Карточка документа