DLA SMD-5962-99511 REV E MICROCIRCUIT, DIGITAL-LINEAR, RADIATION HARDENED DUAL INVERTING MOSFET DRIVER, MONOLITHIC SILICON
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29.035
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29.035.50
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- ASTM F79 Standard Specification for Type 101 Sealing Glass
- ASTM D257 Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
- ASTM D116 Standard Test Methods for Vitrified Ceramic Materials for Electrical Applications
- ASTM D257 Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
- ASTM D116 Standard Test Methods for Vitrified Ceramic Materials for Electrical Applications
- ASTM D2149 Standard Test Method for Permittivity (Dielectric Constant) And Dissipation Factor Of Solid Dielectrics At Frequencies To 10 MHz And Temperatures To 500°C
- ASTM D2442 Standard Specification for Alumina Ceramics for Electrical and Electronic Applications
- DLA MIL-STD-883K CHANGE 1 TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS
- DLA SMD-5962-98580 REV N MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, SCHMITT 16-BIT BIDIRECTIONAL MULTI-PURPOSE TRANSCEIVER WITH THREE-STATE OUTPUTS, MONOLITHIC SILICON
- DLA MIL-HDBK-780D CHANGE 2 STANDARD MICROCIRCUIT DRAWINGS
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 4
- DLA MIL-HDBK-780D CHANGE 2 STANDARD MICROCIRCUIT DRAWINGSСТАНДАРТНЫЕ МИКРОСХЕМЫ ЧЕРТЕЖИ
Карточка документа - DLA MIL-HDBK-103AY LIST OF STANDARD MICROCIRCUIT DRAWINGSСПИСОК СТАНДАРТНЫХ МИКРОСХЕМ ЧЕРТЕЖИ
Карточка документа - DLA MIL-STD-883K CHANGE 2 TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITSМИКРОСХЕМЫ СТАНДАРТА МЕТОДА ТЕСТИРОВАНИЯ
Карточка документа - ASTM F1192 Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor DevicesТипичный гид для измерения Единственных явлений событий (SEP), вызванных тяжелым озарением иона устройств полупроводника
Карточка документа
