DLA SMD-5962-99511 REV E MICROCIRCUIT, DIGITAL-LINEAR, RADIATION HARDENED DUAL INVERTING MOSFET DRIVER, MONOLITHIC SILICON
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29.035
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29.035.50
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- ASTM F79 Standard Specification for Type 101 Sealing Glass
- ASTM D257 Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
- ASTM D116 Standard Test Methods for Vitrified Ceramic Materials for Electrical Applications
- ASTM D257 Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
- ASTM D116 Standard Test Methods for Vitrified Ceramic Materials for Electrical Applications
- ASTM D2149 Standard Test Method for Permittivity (Dielectric Constant) And Dissipation Factor Of Solid Dielectrics At Frequencies To 10 MHz And Temperatures To 500°C
- ASTM D2442 Standard Specification for Alumina Ceramics for Electrical and Electronic Applications
- DLA MIL-STD-883K CHANGE 1 TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS
- DLA SMD-5962-98580 REV N MICROCIRCUIT, DIGITAL, RADIATION HARDENED, ADVANCED CMOS, SCHMITT 16-BIT BIDIRECTIONAL MULTI-PURPOSE TRANSCEIVER WITH THREE-STATE OUTPUTS, MONOLITHIC SILICON
- DLA MIL-HDBK-780D CHANGE 2 STANDARD MICROCIRCUIT DRAWINGS
- Картотека зарубежных и международных стандартов
CC - DLA Land and Maritime
MICROCIRCUIT, DIGITAL-LINEAR, RADIATION HARDENED DUAL INVERTING MOSFET DRIVER, MONOLITHIC SILICON
N SMD-5962-99511 REV E
Annotation
This drawing documents three product assurance class levels consisting of high reliability (device class Q), space application (device class V) and for appropriate satellite and similar applications (device class T). A choice of case outlines and lead finishes are available and are reflected in the Part or Identifying Number (PIN). When available, a choice of Radiation Hardness Assurance (RHA) levels is reflected in the PIN. For device class T, the user is encouraged to review the manufacturer’s Quality Management (QM) plan as part of their evaluation of these parts and their acceptability in the intended application
Автоматический перевод:
МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВОЙ-ЛИНЕЙНЫЙ, РАДИАЦИОННО-СТОЙКИЕ ДВОЙНОЙ ИНВЕРТИРУЮЩИЙ ДРАЙВЕР МОП-ТРАНЗИСТОРОВ, МОНОЛИТНЫХ КРЕМНИЙ
Этот рисунок документами трех уровней обеспечения продукт, состоящий из высокая надежность (Класс устройства Q), пространство применения-устройства (V класс) и для соответствующего спутника и аналогичного применения (устройства класса T). Широкий выбор чехол контуры и ведут отделки доступны и отражены в составе или идентификационный номер (пин-код). При наличии выбора радиационного контроля твердости (РГА) уровней отражено в ПИН. Для устройств класса Т, пользователю рекомендуется к рассмотрению менеджмента качества изготовителя плана (УК) в рамках оценки этих частей и их приемлемость по назначению
