IEC 60749-3 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 3: External visual examination - Edition 2.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03.100
- 31
- 49
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 2
- IEC 61340-5-1 (REDLINE + STANDARD) Electrostatics – Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena – General requirements - Edition 2.0Электростатика – Часть 5-1: Защита электронных приборов от электростатических явлений – Общих требований - Издание 2.0
Карточка документа - IEC 62483 Environmental acceptance requirements for tin whisker susceptibility of tin and tin alloy surface finishes on semiconductor devices - Edition 1.0Экологические приемные требования для чувствительности оловянного уса обработок поверхности оловянного и оловянного сплава на полупроводниковых устройствах - Выпуск 1.0
Карточка документа
