SAE International

Techniques for Suspect/Counterfeit EEE Parts Detection by Design Recovery Test Methods
 N AS6171/11

Annotation

This method outlines the requirements, capabilities, and limitations associated with the application of Design Recovery for the detection of counterfeit electronic parts including: Operator training; Sample preparation; Imaging techniques; Data interpretation; Design/functional matching; Equipment maintenance and; Reporting of data. The method is primarily aimed at analyses performed by circuit delayering and imaging with a scanning electron microscope or optical microscope; however, many of the concepts are applicable to other microscope and probing techniques to recover design data. The method is not intended for the purpose of manufacturing copies of a device, but rather to compare images or recover the design for determination of authenticity.

If AS6171/11 is invoked in the contract, the base document, AS6171 General Requirements shall also apply.

Автоматический перевод:

Методы для Подозреваемого/Подделки Обнаружение Частей EEE Методами испытаний Восстановления Дизайна

Этот метод обрисовывает в общих чертах требования, возможности и ограничения, связанные с заявлением на Восстановление Дизайна для обнаружения поддельных электронных частей включая: обучение Оператора; Типовая подготовка; методы Отображения; интерпретация Данных; соответствие Дизайна / функциональное соответствие; Обслуживание оборудования и; Отчетность данных. Метод, прежде всего, нацелен на исследования, выполненные схемой delayering и отображением с растровым электронным микроскопом или оптическим микроскопом; однако, многие понятия применимы к другому микроскопу и методам исследования для восстановления данных о дизайне. Метод не предназначается в целях производственных копий устройства, а скорее сравнить изображения или возвратить дизайн для определения подлинности.