IEC 62435-5 Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 5: Die and wafer devices - Edition 1.0
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC 60749-3 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Examination - Edition 1.0
- 31
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- IEC TR 60479-4 Effects of current on human beings and livestock – Part 4: Effects of lightning strokes - Edition 2.0
- 13
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- IEC TR 60479-4 Effects of current on human beings and livestock – Part 4: Effects of lightning strokes - Edition 2.0
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- IEC TR 60479-4 Effects of current on human beings and livestock – Part 4: Effects of lightning strokes - Edition 2.0
- IEC TS 60479-1 CORR 2 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 2 - Edition 4.0
- IEC 61230 Live working – Portable equipment for earthing or earthing and short-circuiting - Edition 2.0
- IEC 62435-1 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 1: General - Edition 1.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 5: Die and wafer devices - Edition 1.0
N 62435-5
Annotation
This part of IEC 62435, is applicable to long-term storage of die and wafer devices and establishes specific storage regimen and conditions for singulated bare die and partial or complete wafers of die including die with added structures such as redistribution layers and solder balls or bumps or other metallisation. This part also provides guidelines for special requirements and primary packaging that contain the die or wafers for handling purposes. Typically, this part is used in conjunction with IEC 62435-1 for long-term storage of devices whose duration can be more than 12 months for products scheduled for long duration storage.
Автоматический перевод:
Электронные компоненты - Долгосрочное хранение электронных полупроводниковых устройств - Часть 5: Умрите и слоистые устройства - Издание 1.0
Эта часть IEC 62435, применимо к долгосрочному хранению, умирают и слоистые устройства, и устанавливает определенный режим хранения, и условия для голого singulated умирают и частная производная или заканчивают пластины, умирают включая, умирают с добавленными структурами, такими как уровни перераспределения и спаивают шары или удары или другую металлизацию. Эта часть также предоставляет инструкции для особых требований и основной упаковки, содержащих умирание или пластины для обработки целей. Как правило, эта часть используется в сочетании с IEC 62435-1 для долгосрочного хранения устройств, продолжительность которых может составить больше чем 12 месяцев для продуктов, намеченных для долгого хранения продолжительности.



