ASTM E1250 Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices
На него ссылаются
- В списке элементов: 4
- DLA MIL-STD-883K CHANGE 2 TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITSМИКРОСХЕМЫ СТАНДАРТА МЕТОДА ТЕСТИРОВАНИЯ
Карточка документа - ASTM E1854 Standard Practice for Ensuring Test Consistency in Neutron-Induced Displacement Damage of Electronic PartsУтвержденный технологический процесс для обеспечения тестовой непротиворечивости в вызванном нейтроном повреждении смещения электронных частей
Карточка документа - ASTM F1892 Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor DevicesТипичный гид для атомной радиации (суммарная доза) тестирование эффектов устройств полупроводника
Карточка документа - BSI BS ISO 15560 Practice for Characterization and Performance of a High-Dose Radiation Dosimetry Calibration LaboratoryПрактика для характеристики и производительности калибровочной лаборатории дозиметрии излучения большей дозы
Карточка документа
