ASTM E2859 Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force Microscopy
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37.040
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37.040.20
- ASTM E2444 Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
- 01
- ASTM E2444 Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
- ASTM E2244 Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- ASTM E2245 Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- ASTM E2530 Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si (111) Monatomic Steps
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 7
- ASTM E2587 Standard Practice for Use of Control Charts in Statistical Process ControlУтвержденный технологический процесс для использования диаграмм управления в статистическом управлении процессом
Карточка документа - ISO 18115-2 Surface chemical analysis - Vocabulary - Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy - Second EditionПоверхностный химический анализ - Словарь - Часть 2: Термины, использованные в тестовой просмотром микроскопии - Второй Выпуск
Карточка документа - ISO ISO/IEC GUIDE 98-3 SUPP 2 Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) Supplement 2: Extension to any number of output quantities - First EditionНеопределенность в измерении - Часть 3: Справочник по выражению неопределенности в измерении (GUM:1995) Приложение 2: Расширение к любому числу выходных количеств - Первый Выпуск
Карточка документа - ASTM E1617 Standard Practice for Reporting Particle Size Characterization DataОбщепринятая практика для создания отчетов о данных о характеристике размера частиц
Карточка документа - ASTM E2530 Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si (111) Monatomic StepsУтвержденный технологический процесс для калибровки Z-усиления атомного микроскопа силы на уровнях смещения подмиллимикрона Используя СИ (111) одноатомные шаги
Карточка документа - ASTM E2456 Standard Terminology Relating to NanotechnologyСтандартная терминология, касающаяся нанотехнологий
Карточка документа - ASTM E2382 Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force MicroscopyСтандартный справочник по сканеру и наконечнику связанные артефакты в просмотре туннелирующей микроскопии и атомной микроскопии силы
Карточка документа
