0 продуктов

Авторизация

BSI BS ISO 23812 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

British Standards Institution

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
 N BS ISO 23812

 

Автоматический перевод:

 

Поверхностный химический анализ - масс-спектрометрия Вторичного иона - Метод для калибровки глубины для кремния с помощью многократных справочных материалов слоя дельты

 

Эквиваленты данного стандарта:

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ