ISO 20341 Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials - First Edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 20341 Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials - First Edition
- 71
- ISO 20341 Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials - First Edition
- 71.040
- ISO 20341 Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials - First Edition
- 71.040.40
- BSI BS ISO 23812 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
- BSI BS ISO 23812 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
- BSI BS ISO 23812 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Organization for Standardization
Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials - First Edition
N 20341
Автоматический перевод:
Поверхностный Метод масс-спектрометрии Вторичного иона химического анализа для оценки параметров резолюции глубины с многократными справочными материалами слоя дельты - Первый Выпуск
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS ISO 20341 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
- JSA JIS K 0169 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
