CEI EN 62132-8 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC 62132-1 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 1: General conditions and definitions - Edition 1.0
- 31
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 3
- IEC 62132-1 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 1: General conditions and definitions - Edition 2.0Интегральные схемы – Измерение электромагнитной неприкосновенности – Часть 1: Общие условия и определения - Выпуск 2.0
Карточка документа - CEI EN 61000-4-20 Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in Transverse Electromagnetic (TEM) waveguidesЭлектромагнитная совместимость (EMC) Часть 4-20: Тестирование и техники измерений - Эмиссия и испытание на невосприимчивость в Поперечных Электромагнитных волноводах (TEM)
Карточка документа - IEC 61000-4-20 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-20: Testing and measurement techniques – Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides - Edition 2.0Электромагнитная совместимость (EMC) – Часть 4-20: Тестирование и техники измерений – Эмиссия и испытание на невосприимчивость в поперечных электромагнитных волноводах (TEM) - Выпуск 2.0
Карточка документа
