IEC 62047-1 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Part 1: Terms and definitions - Edition 1.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC 62047-1 Semiconductor devices Micro-electromechanical devices Part 1: Terms and definitions - Edition 1.0
- 31
- IEC 60876-1 Fibre optic interconnecting devices and passive components – Fibre optic spatial switches – Part 1: Generic specification - Edition 4.0
- 33
- IEC 60876-1 Fibre optic interconnecting devices and passive components – Fibre optic spatial switches – Part 1: Generic specification - Edition 4.0
- 33.180
- IEC 62047-1 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 1: Terms and definitions - Edition 2.0
- IEC 62047-14 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials - Edition 1.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 6
- CEI EN 62047-14 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materialsПолупроводниковые устройства - Микроэлектромеханическая Часть 14 устройств: Формирование предельного метода измерения металлических пленочных материалов
Карточка документа - DIN EN 62047-14 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (IEC 62047-14:2012)Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 14: Формирование предельного метода измерения металлических пленочных материалов (62047-14:2012 IEC)
Карточка документа - IEC 62047-14 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 14: Формирование предельного метода измерения металлических пленочных материалов - Выпуск 1.0
Карточка документа - DIN EN 62047-4 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS (IEC 62047-4:2008)Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 4: Универсальная спецификация для MEMS (62047-4:2008 IEC)
Карточка документа - BSI BS IEC 60747-14-1 Semiconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - Generic specification for sensorsПолупроводниковая Часть 14-1 устройств: Полупроводниковые датчики - Универсальная спецификация для датчиков
Карточка документа - IEC 60747-14-1 Semiconductor devices – Part 14-1: Semiconductor sensors – Generic specification for sensors - Edition 2.0Полупроводниковые устройства – Часть 14-1: Полупроводниковые датчики – Универсальная спецификация для датчиков - Выпуск 2.0
Карточка документа
