ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- 37
- ASTM D6196 Standard Practice for Selection of Sorbents, Sampling, and Thermal Desorption Analysis Procedures for Volatile Organic Compounds in Air
- ISO 18158 Workplace air - Terminology - First Edition
- ISO TR 14294 Workplace atmospheres — Measurement of dermal exposure — Principles and methods - First Edition
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Organization for Standardization
Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
N 16700
Автоматический перевод:
Анализ микролуча, Сканируя электронные Рекомендации по микроскопии для калибровки усиления изображения - Первый Выпуск
Эквиваленты данного стандарта:
- JSA JIS K 0149-1 Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
