IEC 60444-1 AMD 1 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters by Zero Phase Technique in a Pi-Network - Part 1: Basic Method for the Measurement of Resonance Frequency and Resonance Resistance of Quartz Crystal Units by Zero Phase Technique in a Pi-Network - Edition 2.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- BSI BS EN 60444-5 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction - AMD 9661: October 1997
- 31
- BSI BS EN 60444-5 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction - AMD 9661: October 1997
- 31.140
- CENELEC EN 60444-5 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction
- BSI BS EN 60444-6 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 6: Measurement of Drive Level Dependence (DLD)
- IEC 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units - Edition 1.0
- CENELEC EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
- IEC 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units - Edition 1.0
- BSI BS EN 60444-6 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 6: Measurement of Drive Level Dependence (DLD)
- CENELEC EN 60444-5 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction
- BSI BS EN 60444-6 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 6: Measurement of Drive Level Dependence (DLD)
- IEC 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units - Edition 1.0
- CENELEC EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
- IEC 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units - Edition 1.0
- BSI BS EN 60444-6 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 6: Measurement of Drive Level Dependence (DLD)
- BSI BS EN 60444-6 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 6: Measurement of Drive Level Dependence (DLD)
- IEC 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units - Edition 1.0
- CENELEC EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
- IEC 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units - Edition 1.0
- IEC 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units - Edition 1.0
- CENELEC EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
- CENELEC EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
- IEC 60444-1 AMD 1 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters by Zero Phase Technique in a Pi-Network - Part 1: Basic Method for the Measurement of Resonance Frequency and Resonance Resistance of Quartz Crystal Units by Zero Phase Technique in a Pi-Network - Edition 2.0
- BSI BS EN 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 8
- CEI EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)Измерение Части 6 параметров модуля кристалла кварца: Измерение зависимости уровня диска (DLD)
Карточка документа - DIN EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2013)Измерение параметров модуля кристалла кварца - Часть 6: Измерение зависимости уровня диска (DLD) (60444-6:2013 IEC)
Карточка документа - BSI BS EN 60444-6 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 6: Measurement of Drive Level Dependence (DLD)Измерение параметров модуля кристалла кварца - часть 6: измерение Зависимости уровня диска (DLD)
Карточка документа - CENELEC EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)Измерение параметров модуля кристалла кварца - Часть 6: Измерение зависимости уровня диска (DLD)
Карточка документа - IEC 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) - Edition 2.0Измерение параметров модуля кристалла кварца – Часть 6: Измерение зависимости уровня диска (DLD) - Выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 60444-8 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal unitsИзмерение Части 8 параметров модуля кристалла кварца: Тестовое приспособление для поверхности смонтировало модули кристалла кварца
Карточка документа - BSI BS EN 60122-1 Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specificationМодули кристалла кварца оцененного качества - Часть 1: Универсальная спецификация
Карточка документа - IEC 60122-1 Quartz Crystal Units of Assessed Quality - Part 1: Generic Specification - Edition 3.0; Replaces IEC 61178-1, 1983 and IEC 60302, 1969Модули кристалла кварца оцененного качества - часть 1: универсальная спецификация - выпуск 3.0; замены IEC 61178-1, 1983 и IEC 60302, 1969
На основе IEC 60122-1 разработан ГОСТ Р МЭК 60122-1-2009 (IDT)ГОСТ Р МЭК 60122-1-2009 (IDT)
