European Committee for Electrotechnical Standardization

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
 N EN 60444-6

Annotation

This part of IEC 60444 applies to the measurements of drive level dependence (DLD) of quartz crystal units. Two test methods (A and C) and one referential method (B) are described. "Method A", based on the -network according to IEC 60444-1, can be used in the complete frequency range covered by this part of IEC 60444. "Reference Method B", based on the - network or reflection method according to IEC 60444-1, IEC 60444-5 or IEC 60444-8 can be used in the complete frequency range covered by this part of IEC 60444. "Method C", an oscillator method, is suitable for measurements of fundamental mode crystal units in larger quantities with fixed conditions.

Автоматический перевод:

Измерение параметров модуля кристалла кварца - Часть 6: Измерение зависимости уровня диска (DLD)

Эта часть IEC 60444 применяется к измерениям зависимости уровня диска (DLD) модулей кристалла кварца. Описаны два метода тестирования (A и C) и один справочный метод (B). "Метод", на основе -network согласно IEC 60444-1, может использоваться в полном частотном диапазоне, покрытом этой частью IEC 60444. "Ссылочный Метод B", на основе -сетевого или отражательного метода согласно IEC 60444-1, IEC 60444-5 или IEC 60444-8 могут использоваться в полном частотном диапазоне, покрытом этой частью IEC 60444. "Метод C", метод осциллятора, подходит для измерений фундаментальных кварцевых стабилизаторов частоты режима в больших количествах с фиксированными условиями.