BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
- 37
- BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification
- 37.020
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- ISO TS 24597 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Methods of evaluating image sharpness - First Edition
- ISO 16700 Microbeam analysis Scanning electron microscopy Guidelines for calibrating image magnification - First Edition
- BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 5
- BSI PD IEC/TS 62622 Nanotechnologies - Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratingsНанотехнологии - Описание, измерение и размерные качественные параметры искусственного gratings
Карточка документа - BSI BS ISO 13067 Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain sizeАнализ микролуча - Электронная дифракция обратного рассеяния - Измерение среднего размера зерна
Карточка документа - BSI DD ISO/TS 12805 Nanotechnologies - Materials specifications - Guidance on specifying nano-objectsНанотехнологии - спецификации Материалов - Руководство при определении нано объектов
Карточка документа - BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or aboveАнализ микролуча - Количественный анализ с помощью дисперсионной энергией спектрометрии (EDS) для элементов с атомным числом 11 (На) или выше
Карточка документа - BSI BS EN 1071-10 Advanced technical ceramics - Methods of test for ceramic coatings Part 10: Determination of coating thickness by cross sectioningПродвинутая техническая керамика - Методы теста на Часть 10 керамических покрытий: Определение толщины покрытия взаимным секционированием
Карточка документа
