BSI BS EN 62132-8 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC 62132-1 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 1: General conditions and definitions - Edition 1.0
- 31
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 4
- IEC 62132-1 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 1: General conditions and definitions - Edition 2.0Интегральные схемы – Измерение электромагнитной неприкосновенности – Часть 1: Общие условия и определения - Выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 61000-4-20 Electromagnetic compatibility (EMC) Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguidesЭлектромагнитная совместимость (EMV). Методы испытания и методы измерения. Измерение мешающей рассылки и мешающей прочности в поперечный электромагнитный (TEM-) волноводы
Карточка документа - IEC 61000-4-20 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-20: Testing and measurement techniques – Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides - Edition 2.0Электромагнитная совместимость (EMC) – Часть 4-20: Тестирование и техники измерений – Эмиссия и испытание на невосприимчивость в поперечных электромагнитных волноводах (TEM) - Выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 62132-1 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions - CORR 16893: February 28, 2007Интегральные схемы - Измерение электромагнитной неприкосновенности, от 150 кГц до 1 ГГц - Часть 1: Общие условия и определения - CORR 16893: 28 февраля 2007
Карточка документа
