0 продуктов

Авторизация

BSI BS EN 62047-8 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

British Standards Institution

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films
 N BS EN 62047-8

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханическая Часть 8 устройств: Полоса, изгибающая метод тестирования для растяжимого измерения свойства тонких пленок

 

Эквиваленты данного стандарта:

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ