IEC 60749-5 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test - Edition 1.0; Replaces IEC/PAS 62161
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- 13
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- 13.160
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- 35
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- 35.100
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 61000-4-8 Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 4-8: Testing and measurement techniques – Power frequency magnetic field immunity test - Edition 2.0
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- CEI EN 61287-1 Railway applications - Power convertors installed on board rolling stock Part 1: Characteristics and test methods
- IEC 60747-15 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 15: Isolated power semiconductor devices - Edition 2.0
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 25
- IEC 62830-3 Semiconductor devices – Semiconductor devices for energy harvesting and generation – Part 3: Vibration based electromagnetic energy harvesting - Edition 1.0Полупроводниковых приборов – полупроводниковых Приборов для восстановления и генерации энергии – Часть 3: Восстановление электромагнитной энергии на основе вибрации - Edition 1.0
Карточка документа - IEC 62830-1 Semiconductor devices – Semiconductor devices for energy harvesting and generation – Part 1: Vibration based piezoelectric energy harvesting - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Полупроводниковые устройства для сбора и преобразования побочной энергии и поколения – Часть 1: Вибрация основывала пьезоэлектрический сбор и преобразование побочной энергии - Выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60747-5-6 Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Edition 1.0Полупроводниковые устройства - Часть 5-6: Оптоэлектронные устройства - Светодиоды - Выпуск 1.0
Карточка документа - BSI PD IEC/TS 62686-1 Process management for avionics - Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductorsУправление процессами для авиационной радиоэлектроники - Электронные компоненты для космоса, защиты и высокой эффективности (ADHP) заявления Часть 1: Общие требования для высоких интегральных схем надежности и дискретных полупроводников
Карточка документа - IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 2.0Управление процессами для авиационной радиоэлектроники – Электронных компонентов для космоса, защиты и высокой эффективности (ADHP) заявления – Часть 1: Общие требования для высоких интегральных схем надежности и дискретных полупроводников - Издание 2.0
Карточка документа - CEI EN 60747-15 Semiconductor devices - Discrete devices Part 15: Isolated power semiconductor devicesПолупроводниковые устройства - Дискретная Часть 15 устройств: Изолированные устройства полупроводника питания
Карточка документа - DIN EN 60747-15 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices (IEC 60747-15:2010)Полупроводниковые устройства - Дискретные устройства - Часть 15: Изолированные устройства полупроводника питания (60747-15:2010 IEC)
Карточка документа - BSI BS EN 60747-15 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devicesПолупроводниковые устройства - Дискретные устройства - Часть 15: Изолированные устройства полупроводника питания
Карточка документа - DIN EN 62047-5 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switches (IEC 62047-5:2011)Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 5: RF MEMS переключатели (62047-5:2011 IEC)
Карточка документа - CENELEC EN 62047-5 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 5: RF MEMS switchesПолупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 5: RF MEMS переключатели
Карточка документа - IEC 62047-5 CORR 1 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 5: RF MEMS switches - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 5: RF MEMS переключатели - Выпуск 1.0
Карточка документа - CENELEC EN 60747-15 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devicesПолупроводниковые устройства - Дискретные устройства - Часть 15: Изолированные устройства полупроводника питания
Карточка документа - DIN EN 60749-30 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011)Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 30: предварительное создание условий негерметичных планарно монтируемый компонентов до испытания на надежность (IEC, 60749-30:2005 + A1:2011)
Карточка документа - BSI BS EN 62047-5 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 5: RF MEMS switches - CORR: April 30, 2013Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханическая Часть 5 устройств: RF MEMS переключатели - CORR: 30 апреля 2013
Карточка документа - IEC 60749-30 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing - Edition 1.1 Consolidated ReprintПолупроводниковые устройства – Механические и климатические методы тестирования – Часть 30: предварительное создание условий негерметичных планарно монтируемый компонентов до испытания на надежность - Выпуск 1.1 Объединенная Перепечатка
Карточка документа - BSI BS IEC 60747-14-4 Semiconductor devices - Discrete devices Part 14-4: Semiconductor accelerometersПолупроводниковые устройства - Дискретная Часть 14-4 устройств: Полупроводниковые акселерометры
Карточка документа - IEC 60747-14-4 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 14-4: Semiconductor accelerometers - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 14-4: Полупроводниковые акселерометры - Выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60747-15 Semiconductor devices – Discrete devices – Part 15: Isolated power semiconductor devices - Edition 2.0Полупроводниковые устройства – Дискретные устройства – Часть 15: Изолированные устройства полупроводника питания - Выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS IEC 60747-14-5 Semiconductor devices Part 14-5: Semiconductor sensors PN-junction semiconductor temperature sensorПолупроводниковая Часть 14-5 устройств: Полупроводниковый температурный датчик полупроводника P-n перехода датчиков
Карточка документа - IEC 60747-14-5 Semiconductor devices – Part 14-5: Semiconductor sensors – PN-junction semiconductor temperature sensor - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Часть 14-5: Полупроводниковые датчики – температурный датчик полупроводника P-n перехода - Выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60747-14-1 Semiconductor devices – Part 14-1: Semiconductor sensors – Generic specification for sensors - Edition 2.0Полупроводниковые устройства – Часть 14-1: Полупроводниковые датчики – Универсальная спецификация для датчиков - Выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 60749-30 + A1 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing - AMD: September 30, 2011Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 30: предварительное создание условий негерметичных планарно монтируемый компонентов до испытания на надежность - AMD: 30 сентября 2011
Карточка документа - BSI BS EN 60749-24 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 24: Accelerated moisture resistance Unbiased HASTПолупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 24 методов тестирования: Ускоренная влагостойкость Несмещенный HAST
Карточка документа - IEC 60749-24 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST - Edition 1.0; Replaces IEC PAS 62336:2002Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 24: Ускоренная влагостойкость - Несмещенный HAST - Выпуск 1.0; Замены IEC PAS 62336:2002
Карточка документа - BSI BS EN 60749-4 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST)Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 4: влажное тепло, устойчивое состояние, Высоко ускоренный тест напряжения (HAST)
Карточка документа
