0 продуктов

Авторизация

DIN 50451-6 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 6: Determination of 36 elements in a high-purity ammonium fluoride solution (NH4F) and in etching mixtures of high-purity ammonium fluoride solution containing hydrofluoric acid

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Deutsches Institut fur Normung e. V.

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 6: Determination of 36 elements in a high-purity ammonium fluoride solution (NH4F) and in etching mixtures of high-purity ammonium fluoride solution containing hydrofluoric acid
 N 50451-6

 

Автоматический перевод:

 

Проверка материалов для полупроводниковой технологии - определение следов элемента в жидкостях - часть 6: Определение 36 элементов в hochreiner решении соли фтористоводородной кислоты аммония (NH4F) и Aetzmischungen из hochreiner решения соли фтористоводородной кислоты аммония с фтористоводородной кислотой

Эта норма вкладывает процесс к определению Elemente Ag, Al, ас, луг, Ba, Би, Около, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, В, K, Li, мг, Mn, пон., ну, Nb, Ni, Pb, Pt, Rb, Sb, Sn, Sr, Ti, Tl, вольт, ватт, Zn и Zr в решении соли фтористоводородной кислоты аммония (NH4F) и tzmischungen из hochreiner решения соли фтористоводородной кислоты аммония с фтористоводородной кислотой в области следов, причем как метод определения масс-спектрометрию с индуктивно соединенной плазмой (МИСС ICP) применяется.

Процессы считаются для чистых участий меры элемента 100 ng/кг до 10 000 ng/кг, в зависимости от обогащения Analyten.

Процесс без пробного обогащения применим для: АО, Al, Ba, Би, Около, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, В, K, Li, мг, Mn, пон., Ni, Pb, Sb, Sn, Sr, Ti, вольт и Zr. Для ну, Pt, Tl только набор данных существует.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ