0 продуктов

Авторизация

DIN 50451-3 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Deutsches Institut fur Normung e. V.

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 3: Determination of 31 elements in high-purity nitric acid by ICP-MS
 N 50451-3

 

Автоматический перевод:

 

Проверка материалов для полупроводниковой технологии - определение следов элемента в жидкостях - часть 3: Определение 31 элемента в hochreiner азотной кислоте посредством MS ICP

Эта норма вкладывает процесс к определению важных для полупроводниковой технологии элементов Al, ас, Ba, Би, Около, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, Ga, Hf, В, K, Li, мг, Mn, пон., Ni, Nb, Pb, Sb, Sn, Sr, Ta, Ti, вольт, Zn и Zr в азотной кислоте в области следов, причем как метод определения масс-спектрометрия с индуктивно соединенной плазмой применяется как источник ионов (МИСС ICP).

Описанные процессы считаются для металлических чистых участий меры 100 ng/кг до 10 000 ng/кг. Процесс отработавшего пара после 5.3 применим также на другие испаряемые жидкости, если повторные нормы нахождения Analyte лежат между 70% и 130%.

ПРИМЕЧАНИЕ Эта норма может применяться также для следующих элементов, если установленные для этих элементов статистические параметрические данные процесса соответствуют требованиям из части 12.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ