ASTM E1813 Standard Practice for Measuring and Reporting Probe Tip Shape in Scanning Probe Microscopy
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- DIN ISO 12853 Optics and optical instruments - Microscopes - Information provided to the user (ISO 12853:1997)
- 37
- DIN ISO 12853 Optics and optical instruments - Microscopes - Information provided to the user (ISO 12853:1997)
- 37.020
- VDI VDI/VDE 2655 BLATT 1.1 Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement
- 17
- VDI VDI/VDE 2655 BLATT 1.1 Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement
- 17.180
- VDI VDI/VDE 2655 BLATT 1.1 Optical measurement and microtopographies - Calibration of interference microscopes and depth measurement standards for roughness measurement
- VDI VDI/VDE 2656 BLATT 1 Determination of geometrical quantities by using of Scanning Probe Microscopes - Calibration of measurement systems
- ASTM E1813 Standard Practice for Measuring and Reporting Probe Tip Shape in Scanning Probe Microscopy
- ASTM F1438 Standard Test Method for Determination of Surface Roughness by Scanning Tunneling Microscopy for Gas Distribution System Components
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 3
- ISO 18115-2 Surface chemical analysis - Vocabulary - Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy - Second EditionПоверхностный химический анализ - Словарь - Часть 2: Термины, использованные в тестовой просмотром микроскопии - Второй Выпуск
Карточка документа - BSI BS ISO 18115-2 Surface chemical analysis - Vocabulary Part 2: Terms used in scanning-probe microscopyПоверхностный химический анализ - Часть 2 Словаря: Термины используются в тестовой просмотром микроскопии
Карточка документа - ASTM E2382 Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force MicroscopyСтандартный справочник по сканеру и наконечнику связанные артефакты в просмотре туннелирующей микроскопии и атомной микроскопии силы
Карточка документа
