BSI PD IEC/TS 62622 Nanotechnologies - Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratings
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 01
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 01.040
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 01.040.71
- 71
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 71.040
- BSI BS ISO 29301 Microbeam analysis - Analytical transmission electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 2
- BSI BS EN ISO 15902 Optics and photonics Diffractive optics Vocabulary - CORR 15773: December 14, 2005Оптика и фотоника Дифракционный Словарь оптики - CORR 15773: 14 декабря 2005
Карточка документа - BSI BS EN ISO 14660-1 Geometrical Product Specifications (GPS) - Geometrical features - Part 1: General terms and definitionsГеометрические технические характеристики изделия (GPS) - Геометрические особенности - Часть 1: Общие термины и определения
Карточка документа
