BSI PD IEC/TS 62622 Nanotechnologies - Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratings
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 01
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 01.040
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 01.040.71
- 71
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 71.040
- BSI BS ISO 29301 Microbeam analysis - Analytical transmission electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
- Картотека зарубежных и международных стандартов
British Standards Institution
Nanotechnologies - Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratings
N PD IEC/TS 62622
Автоматический перевод:
Нанотехнологии - Описание, измерение и размерные качественные параметры искусственного gratings
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
