Ссылается на

• В списке элементов: 7
• VDI 2083 BLATT 9.2 Cleanroom technology - Consumables in the cleanroomТехнология чистого помещения - Предметы потребления в чистом помещении
  Карточка документа 
• DIN 58356-2 Membrane filter elements - Part 2: Pressure holder testsЭлементы мембранного фильтра - Часть 2: испытания держателя Давления
  Карточка документа 
• DIN 58356-12 Filter elements - Membrane filter elements - Part 12: Integrity test of hydrophobic membrane filters with waterЭлементы фильтра - Мембрана фильтрует элементы - Часть 12: анализ Целостности гидрофобной мембраны фильтрует с водой
  Карточка документа 
• DIN 50452-1 Particle analysis of liquids for use in semiconductor technology by the microscopic particle determinationПроверка материалов для полупроводниковой технологии - процесс к аналитике частицы в жидкостях - часть 1: Микроскопическое определение частицы
  Карточка документа 
• DIN 50450-2 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N2, Ar, He, Ne and H2 by using a galvanic cellТестирование материалов для технологии полупроводника; определение примесей в газах-носителях и газах допинга; определение примеси кислорода в N2, Арканзас, Нем, Ne и H2 при помощи гальванической клетки
  Карточка документа 
• DIN 50450-3 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of methane impurity in H2, O2, N2, Ar and He by using a flame ionization detector (FID)Тестирование материалов для технологии полупроводника; определение примесей в газах-носителях и газах допинга; определение примеси метана в H2, O2, N2, Арканзас и Нем при помощи пламенно-ионизационного детектора (FID)
  Карточка документа 
• DIN 50450-1 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of water impurity in hydrogen, oxygen, nitrogen, argon and helium by using a diphosphorus pentoxide cellТестирование материалов для технологии полупроводника; определение примесей в газах-носителях и газах допинга; определение водной примеси в водороде, кислороде, азоте, аргоне и гелии при помощи diphosphorus клетки пятиокиси
  Карточка документа