DIN 50450-2 Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N2, Ar, He, Ne and H2 by using a galvanic cell
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Deutsches Institut fur Normung e. V.
Testing of materials for semiconductor technology; determination of impurities in carrier gases and doping gases; determination of oxygen impurity in N2, Ar, He, Ne and H2 by using a galvanic cell
N 50450-2
Автоматический перевод:
Тестирование материалов для технологии полупроводника; определение примесей в газах-носителях и газах допинга; определение примеси кислорода в N2, Арканзас, Нем, Ne и H2 при помощи гальванической клетки
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
