Метод фотоуправляемых полупроводниковых частиц
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Охрана труда
- Техэксперт: Промышленная безопасность
- Техэксперт: Нормы, правила, стандарты и законодательство России
- Техэксперт: Нефтегазовый комплекс
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Техэксперт: Электроэнергетика
- Техэксперт: Теплоэнергетика
- Стройэксперт. "Вариант Лидер"
- Техэксперт: Эксплуатация зданий
- Стройтехнолог
МЕТОД ФОТОУПРАВЛЯЕМЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЧАСТИЦ
Метод неразрушающего контроля, основанный на регистрации пространственной структуры СВЧ поля, взаимодействующего с контролируемым объектом в плоскости фотоуправляемой полупроводниковой пластины, и измерении коэффициента отражения (прохождения) электромагнитной волны от освещенного участка пластины.
"ГОСТ Р 56542-2015 Контроль неразрушающий. Классификация видов и методов" от 07.08.2015 г.
МЕТОД ФОТОУПРАВЛЯЕМЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ЧАСТИЦ
Метод неразрушающего контроля, основанный на регистрации пространственной структуры СВЧ поля, взаимодействующего с контролируемым объектом в плоскости фотоуправляемой полупроводниковой пластины, и измерении коэффициента отражения (прохождения) электромагнитной волны от освещенного участка пластины
