IEC 62435-2 Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 2: Deterioration mechanisms - Edition 1.0
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- IEC TR 60479-4 Effects of current on human beings and livestock – Part 4: Effects of lightning strokes - Edition 2.0
- CSA CAN/CSA-E61347-1:03 Lamp controlgear – Part 1: General and safety requirements - First Edition
- 13
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- 13.200
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- 29
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- 29.020
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- CSA CAN/CSA-E61347-1:03 Lamp controlgear – Part 1: General and safety requirements - First Edition
- IEC TR 60479-4 Effects of current on human beings and livestock – Part 4: Effects of lightning strokes - Edition 2.0
- IEC TS 60479-1 CORR 2 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 2 - Edition 4.0
- IEC 61230 Live working – Portable equipment for earthing or earthing and short-circuiting - Edition 2.0
- IEC TS 60479-1 CORR 1 Effects of current on human beings and livestock – Part 1: General aspects CORRIGENDUM 1 - Edition 4.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Electronic components – Long-term storage of electronic semiconductor devices – Part 2: Deterioration mechanisms - Edition 1.0
N 62435-2
Annotation
This part of IEC 62435 is related to deterioration mechanisms and is concerned with the way that components degrade over time depending on the storage conditions applied. This part also includes guidance on test methods that may be used to assess generic deterioration mechanisms. Typically, this part is used in conjunction with IEC 62435-1 for any device longterm storage whose duration may be more than 12 months for product scheduled for long duration storage. Mechanisms that apply to specific component types are detailed in IEC 62435-5 to IEC 62435-9 (proposed)1.
Автоматический перевод:
Электронные компоненты – Долгосрочное хранение электронных устройств полупроводника – Часть 2: механизмы Ухудшения среды обитания - Издание 1.0
Эта часть IEC 62435 связана с механизмами ухудшения и касается способа, которым компоненты ухудшаются со временем в зависимости от примененных условий хранения. Эта часть также включает руководство на методах испытаний, которые могут использоваться для оценки универсальных механизмов ухудшения. Как правило, эта часть используется в сочетании с IEC 62435-1 для любого длительного хранения устройства, продолжительность которого может составить больше чем 12 месяцев для продукта, запланированного для долгого хранения продолжительности. Механизмы, которые относятся к определенным составляющим типам, детализированы в IEC 62435-5 к IEC 62435-9 (сделал предложение) 1.
